Caracterização de bens culturais por espectroscopia de fluorescência de raios X

Autores

  • Augusto Câmara Neiva Universidade de São Paulo; Escola Politécnica
  • Jérémie Dron Universidade de São Paulo; Escola Politécnica

DOI:

https://doi.org/10.11606/issn.1980-4466.v0i6p188-197

Palavras-chave:

Espectroscopia de fluorescência de raios X, Arqueometria, Patrimônio cultural

Resumo

O presente trabalho descreve o espectômetro EDXRF desenvolvido pelo LEC/USP para caracterização de peças de aço produzidas na primeira siderúrgica brasileira, a Fábrica Ipanema, e de peças metálicas da coleção pré- hispânica do Museu de Arqueologia e Etnologia da USP. Os procedimentos para quantificação aproximada de titânio nas peças de Ipanema, e para identificação de eventuais elementos minoritários nas ligas de ouro- cobre- prata das peças pré- hispânicas, bem como os resultados alcançados, são aqui analisados, a fim de verificar a adequação do equipamento diante das condições efetivas de trabalho.

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Publicado

2008-10-01

Edição

n. 6 (2008)

Seção

Relatos e Depoimentos

Licença

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Como Citar

Neiva, A. C., & Dron, J. (2008). Caracterização de bens culturais por espectroscopia de fluorescência de raios X . Revista CPC, 6, 188-197. https://doi.org/10.11606/issn.1980-4466.v0i6p188-197